高頻介電常數介損的使用方法

點擊次數：1127 發(fā)布時間：2024-07-30

大家在日常使用高頻介電常數介損的時候不熟悉具體如何操作的，下面我來為大家介紹一下：

電感圖片.png

1平板電容器動極片 2 平板電容器定極片

3 有棘輪測力功能的調節(jié)桿，當二電極夾持樣品具有一定壓力時，棘輪會發(fā)出“咯咯"聲，表明壓力合適。

4 高電平接插件 5 低電平接插件 6 ON/OFF---SET 鍵

7 ABS/INC---UNIT 鍵 8 數據輸出鍵

9 RS232數據輸出口（LCD屏背面） 10 電池蓋（LCD屏背面）

把被測樣品用鉗子置于平板電容器的動極片（1）和定極片（2）之間，調節(jié)平板電容器的測微頭，到二極片夾住樣品止。這時數顯測微頭顯示的數值即為樣品厚度（ta）。為消除樣品和極片之間間隙，可轉動樣品多次測量，樣品厚度以最小值為準，如樣品有雙層金屬薄膜，計算ta要減去2倍薄膜厚度.。

4.5.4 調節(jié)Q表的調諧電容器，使其諧振，此時讀取Q值記為Q1，調諧電容的刻度記為C1。

4.5.5 松開平板電容器極片，取出被測樣品，然后平板電容器仍在置于有樣品時的實際厚度值（ta），保持極片實際距離和有樣品時一致。

4.5.6 再次調節(jié)Q表的調諧電容器，再次諧振，此時讀取的Q值為Qo（Qo總是比Q1高，對優(yōu)質絕緣材料，二者較接近，要仔細調諧,要使用Q表的“Q記憶"功能。調諧電容的刻度記為C0（C0總是比C1大）對低介電常數材料，電容值變化較小，要仔細讀取電容變化值。使用WY2852DQ表時要使用△C功能，當然使用WY2852A或WY2853A型自動Q表則得到更精確的電容變化值，因為自動Q表提高了電容值刻度讀數的分辯率，提高測試ε正確度。

4.5.7試樣的損耗因數計算公式為：

計算公式.png

注意：在操作中要十分注意樣品的清潔，要戴手套或用鑷子取放樣品。

下面推薦一種能提高測試精確性的方法：準備二片厚0.05mm的圓形錫膜或鋁膜。直徑和平板電容器極片一致，錫膜兩面均勻地涂上一層薄薄的凡士林，它起粘附作用，又能排除接觸面之間殘余空氣。然后把錫膜再粘在被測樣品上或平板電容器兩個極片上，粘好后要仔細平整，使平面呈鏡面狀為佳。

4.4 測試前準備：

先要詳細了解本裝置配用Q表的使用方法，操作時，要避免人體感應的影響，即調節(jié)本裝置時，手臂盡可能離開本裝置。

4.4.1檢查測試裝置二極片平行度。

a) 本測試裝置的動極片和定極片的平行度應優(yōu)于0.02mm。也可以測量二極片之間的電容量來檢查，當測試裝置測微頭置于0.02mm時，用數字電橋測得電容值300-500 pF之間即認為符合平行度要求。

b) 本測試裝置在出廠前已完成平行度測試。裝置如長期不用或受到沖擊等原因，需要重新返廠調整，用戶不得擅自調整。本裝置底部有三個調節(jié)螺釘，但一定要具備相應設備才能進行，否則會損壞本裝置。

4.4.2檢查Q表是否正常工作

a ) 將250-350μH電感器（一般先用250μH），接在Q表“Lx"接線柱上。

b) 頻率調至1MHz。

c ) 微調電容器置于“0pF"處（只有WY2852D，WY2851D 有微調電容），調節(jié)Q表調諧電容器，使其諧振，Q值應指示在180左右，調諧電容值刻度在100pF附近，表示Q表處于正常工作狀態(tài)。

4.5 國標GB/T 1409-2006，推薦Q表法測試絕緣材料的介質損耗因數和介電常數程序：

4.5.1 先完成4.3和4.4條規(guī)定的測試前準備基礎上進行正常測試。

4.5.2 把本測試裝置WY916D插到Q表測試回路的“Cx"二個端子上（如下圖）。先調節(jié)測微頭（3），使二個極片相接觸，快速按ABS/INC鍵

1 概述

介質損耗測試裝置和GDAT系列Q表（最佳Q表是WY2852A或W自動Q表）及電感器配用。能對絕緣材料進行高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)的測試。它符合國標GB/T 1409-2006，GB/T 1693-2007，美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

電容量圖片.png

2 工作特性

2.1 平板電容器：

2.1.1極片尺寸：

916D-38: φ38mm。

916D-50 φ50 mm。

2.1.2 極片間距可調范圍和分辨率：

≥7mm，±0.001mm

2.2 裝置插頭間距：

25mm±1mm

2.3 裝置損耗角正切值：

≤4×10-4（1MHz時）

2.4 使用環(huán)境濕度要求※（非常重要）：

相對濕度:<60%

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3 工作原理

本測試裝置是由二塊圓形電極片組成平板電容器。平板電容器一般用來夾被測樣品。平板狀的絕緣材料的損耗角正切值和介電常數是通過被測樣品放進平板電容器和不放進樣品的Q表Q值顯示變化量的大小以及調諧電容值變化。同時，由平板電容器的數字測微頭測得樣品厚度而換算得到ε和tanδ值。自動Q表的機內計算機會自動計算并顯示于彩屏上。

測量誤差主要來自二次指示器的標定刻度，以及在連線中尤其是在可變電容器和試樣的連線中所引入的阻抗。

4.7 其他應用使用方法：

使用本測試裝置和Q表配用，對絕緣材料以及其它高阻性能的薄材，例如：優(yōu)質紙張、優(yōu)質木材、粉壓片料等，進行相對測量。其測試方法就非常簡便、實用。采取被測樣品和標準樣品相比較方法，就能靈敏地區(qū)別二者之間的細微差別，例如含水量，配用原料變動等等。

測試時先把標準樣品放入平板電容器，調節(jié)Q表頻率，諧振后讀得Q值。再換上被測樣品，調節(jié)Q表調諧電容器，再諧振，看Q值變化，如Q值變化很小，說明標準樣品和被測樣品高頻損耗值一致，反之，說明二者性能有區(qū)別。

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